VDE 0432-2:2011
VDE 0432-2:2011 High-Voltage Test Techniques - Part 2: Measuring Systems
Table of Contents
VorwortAnerkennungsnotiz
1Anwendungsbereich
2NormativeVerweisungen
3BegriffeundFormelzeichen
3.1Messsysteme
3.2Messumformer
3.3Übertragungssystem
3.4AnzeigendesoderaufzeichnendesMessgerät
3.5Massstabsfaktoren
3.6DynamischeEigenschafteneinesMesssystems
3.7ParameterderAntwortfunktion
3.8GesamteMessunsicherheite
3.9Bemessungswerte
3.10Prüfungen
4QualifizierungundAnwendungvonMesssystemen
4.1AllgemeinePrinzipien
4.2Abstandzwischenaufeinanderfolgenden
Eignungsprüfungen
4.3Abstandzwischenaufeinanderfolgenden
Kontrollmessungen
4.4AnforderungenandieIdentifikationsakte
4.5Anwendungsbedingungen
5AbnahmeprüfunganKomponentenvonanerkannten
Messsystemen
5.1Anwendbarkeit
5.2BestimmungdesMassstabsfaktors
5.3Linearitätsprüfung
5.4Kurzzeitstabilitätsprüfung
5.5LangzeitstabilitätvoneinzelnenKomponenten
5.6Temperatureinfluss
5.7Proximityeffekt
5.8DynamischesVerhalteneinerKomponente
5.9Stehspannungsprüfung
6EignungsprüfungenanMesssystemen
6.1AllgemeinePrinzipien
6.2BestimmungdesfestgesetztenMassstabsfaktors
6.3PrüfungdesdynamischenVerhaltens(für
Stossmesssysteme)
6.4Störfestigkeitsprüfung(fürStossmesssysteme)
7Gleichspannungsmessung
7.1AnforderungenananerkannteMesssysteme
7.2AbnahmeprüfungenanKomponenteneines
anerkanntenMesssystems
7.3EignungsprüfungenanMesssystemen
7.4Kontrollmessung
7.5IEC-Standard-Messgerät
7.6MessungderAmplitudederWelligkeit
8Wechselspannungsmessung
8.1AnforderungenaneinanerkanntesMesssystem
8.2AbnahmeprüfungenanKomponenteneines
anerkanntenMesssystems
8.3EignungsprüfungenanMesssystemen
8.4Kontrollmessungen
8.5IEC-Standard-Messgerät
9MessungvonBlitzstossspannung
9.1AnforderungenaneinanerkanntesMesssystem
9.2AbnahmeprüfungenanKomponenteneines
anerkanntenMesssystems
9.3EignungsprüfunganMesssystemen
9.4Kontrollmessung
9.5IEC-Standard-Messgerät
10MessungvonSchaltstossspannung
10.1AnforderungenananerkannteMesssysteme
10.2AbnahmeprüfungenanKomponentenvon
anerkanntenMesssystemen
10.3EignungsprüfungenanMesssystemen
10.4Kontrollmessung
10.5IEC-Standard-Messgerät
11MessungvonStossstrom
11.1AnforderungenananerkannteMesssysteme
11.2AbnahmeprüfungenanKomponentenvon
anerkanntenMesssystemen
11.3EignungsprüfungenanMesssystemen
11.4Kontrollmessung
12Referenzmesssysteme
12.1AnforderungenanReferenzmesssysteme
12.2KalibrierungvonReferenzmesssystemen
12.3ZeitraumzwischenZertifizierungenvon
Referenzmesssystemen
Bilder
Anhänge
AnhangA(normativ)Akkreditierungssysteme
A.1NationaleAkkreditierungssysteme
A.2Literaturhinweise
AnhangB(informativ)StruktureinerIdentifikationsakte
B.1AllgemeineStruktur
B.2AllgemeineBeschreibungdesSystems(KapitelA)
B.3ErgebnissederAbnahmeprüfungenanKomponenten
(KapitelB)
B.4ErgebnissederPrüfungenamvollständigen
Messsystem(KapitelC)
B.5ErgebnissederEignungsprüfungen(KapitelD)
B.6ErgebnissederKontrollmessungen(KapitelE)
B.7MinimaleFormderIdentifikationsakte
AnhangC(informativ)MessungderSprungantwort
C.1SchaltungenzurMessungderSprungantwort
AnhangD(informativ)Temperaturerhöhungvon
Messwiderständen
AnhangE(informativ)Referenzmesssystemeund
vergleichendeMessungenfürStossspannungen
-Literaturhinweise
E.1VergleichendeMessungen
E.2EinigeBeispielefürTeilervonReferenzmesssystemen
E.3IEC-Standard-Messgeräte
AnhangF(informativ)ZusammenfassungderPrüfungen
F.1PrüfungenanGleichspannungsmesssystemen
F.2PrüfungenanWechselspannungsmesssystemen
F.3PrüfungenanBlitzstossspannungsmesssystemen
F.4PrüfungenanSchaltstossspannungsmesssystemen
F.5PrüfungenanStossstrommesssystemen
AnhangG(informativ)Gebiete,diebesondereSorgfalt
erfordern
G.1MessungdesMassstabsfaktorseinesTeilers
(siehe5.2.1)
G.2TastköpfeundexterneAbschwächer
G.3MassstabsfaktoreinesTastkopfes
G.4AuswahlangemessenerSpannungspegel
G.5GenauigkeitvonZeitmessungen
AnhangZA(normativ)AndereindieserNormzitierte
internationalePublikationenmitden
Verweisungenaufdieentsprechenden
europäischenPublikationen